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簡(jiǎn)要描述：美國Trio-Tech 半導(dǎo)體高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)，高加速應(yīng)力測(cè)試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時(shí)間，以測(cè)量元件的可靠性，無論是否具有電偏置。HAST測(cè)試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測(cè)試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測(cè)試。腐蝕型故障加速，在較短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封，材料和接頭等缺陷。偏置高加速壓力測(cè)試（BHAST）利用與HAST測(cè)試相同的變量（高壓，高溫和時(shí)間），但增加了電壓偏差。BHAST測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào)：HAST 1000廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-06-20訪 問 量：2790產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
|---|---|---|---|
| 測(cè)試箱規(guī)格 | 18*24in | 外尺寸 | 77*108*190cm |
| 可用空間 | 50*60*48cm | 重量 | 1586kg |
| 電源要求 | 220V 50Hz | 溫濕度 | 105-133@100RH |
| 最大壓力 | 56SI | 均勻度 | 1.5度/5% |
| 功耗 | 2500W@110度 85%RH | 最大裝載 | 50-60kg |
高加速應(yīng)力測(cè)試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時(shí)間，以測(cè)量元件的可靠性，無論是否具有電偏置。HAST測(cè)試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測(cè)試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測(cè)試。腐蝕型故障加速，在較短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封，材料和接頭等缺陷。
偏置高加速壓力測(cè)試（BHAST）利用與HAST測(cè)試相同的變量（高壓，高溫和時(shí)間），但增加了電壓偏差。BHAST測(cè)試的目標(biāo)是加速設(shè)備內(nèi)的腐蝕，從而加快測(cè)試周期。
HAST加速壓力測(cè)試與THB測(cè)試類似，因?yàn)楣收鲜怯上嗤臋C(jī)制引起的。由此產(chǎn)生的故障以成比例的速率發(fā)生，并且可以在激活引擎之間找到相關(guān)性。電氣設(shè)備/組件更可靠，因此，數(shù)千小時(shí)的THB測(cè)試無法在短時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)HAST腐蝕故障測(cè)試的弱點(diǎn)。
型的HAST測(cè)試條件包括110或130°C的溫度，85%RH的濕度和96小時(shí)的測(cè)試運(yùn)行時(shí)間。一旦高度加速的壓力測(cè)試完成，測(cè)試的樣品將用防潮袋返回給客戶，并帶有測(cè)試時(shí)間標(biāo)簽。HAST測(cè)試通常遵循JEDEC規(guī)范JESD22 A110，“高加速溫度和濕度壓力測(cè)試（HAST）"。
JESD22-A118 （無偏）
JESD22-A110 （偏置）
IEC 60068-2-66
l HAST已被開發(fā)用于取代溫度 - 濕度偏差（THB）測(cè)試
l HAST使用110至130 ?C的測(cè)試溫度，與THB測(cè)試相比，將測(cè)試時(shí)間縮短至96小時(shí)
l 干燥）高溫 130C， 相對(duì)濕度 85%， 壓力 33.3 psia
l （濕）高溫110C，相對(duì)濕度35%，壓力17.7標(biāo)準(zhǔn)
l 電子學(xué)
l 半導(dǎo)體
l 太陽能
l 藥品
l 空間應(yīng)用
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